حامی فایل

مرجع دانلود فایل ,تحقیق , پروژه , پایان نامه , فایل فلش گوشی

حامی فایل

مرجع دانلود فایل ,تحقیق , پروژه , پایان نامه , فایل فلش گوشی

ذرات فلزی با اندازه نانو تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS)

اختصاصی از حامی فایل ذرات فلزی با اندازه نانو تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS) دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

فرمت فایل word  و قابل ویرایش و پرینت

تعداد صفحات: 75

 

فهرست

مقدمه

4

چکیده

6

فصل اول تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS)

7

1-1- تکنیک های پراکندگی زاویه کوچک (SAS)

8

2-1- پخش (ارسال) نوری:

17

3-1- ارسال نوترون زاویه کوچک( (SANS

21

فصل دوم تئوری SAXS

24

1-2- قانون Guinier و شعاع دوران

29

2-2- تداخل بین ذره ای (Interparticle Interference)

31

فصل سوم تجهیزات (SAXS)

33

1-3- تجهیزات آشکارسازی شمارنده ای

34

1-1-3- دیفرکتومتر چهار شکافی (Four –Slit diffractomter)

35

2-3- دوربینهای شناسایی فتوگرافیکی

37

1-2-3- دوربین kratky

38

3-3- تجهیزات سیستم SAXS نصب شده در شرکت مترولوژی (UMASS)

42

1-3-3- منبع تشعشع

42

2-3-3- جداسازی و برد q:

44

3-3-3- آشکارسازهای سطح:

49

4- 3-3- محفظه های مربوط به نمونه:

53

5-3-3- سیستم خلاء

55

6-3-3- سکوئی برای سیستم نصب:

55

7- 3-3- سیستم ایمنی:

55

8-3-3- الکترونیک و اینترفیس (واسطه) کامپیوتری:

56

9- 3-3- نرم افزار آنالیز داده ها

57

10-3-3- تجهیزات جانب یبرای عملکرد بهینه:

58

11- 3-3- گزینه ها:

59

فصل چهارم شرایط و دستورالعمل آزمایشگاهی

60

1-4- تکفام کنندگی و انتخاب طول موج

61

2-4- تنظیم و ساخت شکاف (slit)

61

3-4- خلاء لازم

62

4-4- روش آشکارسازی

62

5-4- آماده سازی نمونه ها

63

6-4- نمونه ها

63

7-4- نمونه های استاندارد

63

8-4- زمان آنالیز

64

فصل پنجم تصحیح داده ها

65

فصل ششم آنالیز داده های SAXS

67

فصل هفتم کاربرد SAXS

71

فصل هشتم مزایا و معایب روش SAXS

74

منابع:

76

مقدمه

ذرات فلزی با اندازه نانو نقش مهمی را در مهندسی مواد ایفا می کنند چون که ویژگیهای ذرات با اندازه نانو با ویژگیهای بقیه مواد متفاوت است ]1[

توزیع اندازه ذرات نانو با استفاده از تکنیک میکروسکوپ TEM قابل اندازه گیری است TEM یک تکنیک فوق العاده مفید برای حصول اطلاعاتی نظیر توزیع اندازه ذره ، اندازه متوسط ذره و شکل ذرات نانو است ]1[

اندازه گیری TEM نیاز به عملیات پیچیده برای آماده سازی نمونه و مهارت بالای اپراتور دارد و زمان اندازه گیری طولانی است بعلاوه تکنیک TEM یک روش اندازه گیری در محل (In situ) نیست و تعداد ذرات اندازه گیری شده از فتوگراف ، در اغلب موارد از اندازه گیریهای تئوریکی کمتر است ]1[

بنابراین اکثر محققان در ارتباط با نانو تکنولوژی در جستجوی یک روش مناسب و یک روش In situ برای اندازه گیری توزیع ذرات نانو بودند این روشها بر اساس پراکندگی در زوایای کوچک استوار بود ]1[

Small-angle scattering =SAS

SAX در واقع یک نام کلی است که برای مجموعه ای از تکنیکهای زیر بکار می رود]2[


دانلود با لینک مستقیم


ذرات فلزی با اندازه نانو تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS)