پاورپوینت مطالعه و بررسی اصلاح سطح نانو ذرات

اختصاصی از حامی فایل پاورپوینت مطالعه و بررسی اصلاح سطح نانو ذرات دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

دسته بندی : پاورپوینت

نوع فایل :  .ppt ( قابل ویرایش و آماده پرینت )

تعداد اسلاید : 16 اسلاید

---

 قسمتی از متن .ppt : 

مطالعه و بررسی اصلاح سطح نانو ذرات

استاد راهنما:

سرکار خانم دکتر محمودی

گردآورنده:

اسماعیل پایان

مقدمه

روش های اصلاح سطح مواد ونانو ذرات

تحقیقات اخیر در رابطه با اصلاح سطح نانو ذرات

نتیجه گیری

فهرست

نانوذره، ذره ای است که ابعاد آن در حدود 1 تا 100 نانومتر باشد.

استفاده از نانو ذرات محدودیت هایی را به وجود می آورد که با اصلاح سطح آنها می توان این مشکلات را بهبود بخشید.

سطح نانو ذرات را می توان توسط روش های مختلفی اصلاح کرد.

با اصلاح سطح نانو ذرات، خواص شیمیایی و فیزیکی متفاوتی را می توان در سطح آنها ایجاد کرد.

مقدمه

تحقیق درباره چگونگی شتاب دار کردن ذرات

اختصاصی از حامی فایل تحقیق درباره چگونگی شتاب دار کردن ذرات دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

فرمت فایل word  و قابل ویرایش و پرینت

تعداد صفحات: 30

در این تحقیق ابتدا به بیان جزئیات ومقدماتی در مورد چگونگی شتاب دار کردن ذرات پرداخته میشود و سپس به بررسی کلی شتاب دهنده ها و بیان انواع آنها وضرورت وجود آنها پرداخت خواهد شد.

نوارهای انرژی وحاملها:

الکترون نمی تواند یک طیف پیوسته از انرژی را به خود اختصاص دهد و دارای سطوح گسسته ای از انرژی است که به این سطوح اربیتال گفته می شود.

مقدار انرژی جنبشی که یک اربیتال دارد بستگی به انرژی الکترون آن دارد.

پیوندهای کووالانسی:

در یک شبکه کریستالی هر دو جفت الکترون تشکیل یک پیوند کوالانسی می دهند. پیوندهای کوولانسی می توانند بین اتمهای یک عنصر یا اتمهای عناصر متفاوت شکل بگیرند. وقتی پیوندهای کووالانسی به هم متصل میشوند یک شبکه کریستالی ایجاد می شود.

الکترون با شرکت در پیوند به سطوح انرژی پایین تری می رود و بنابراین برای رهایی از پیوند کووالانسی باید مقداری انرژی مصرف کنیم.

دردمای صفر کلوین در شبکه کریستالی تمام الکترونها در پیوندهای کووالانسی محبوس می شوند ولی در دمای محیط بعضی از پیوندها این شانس را دارند که از محیط اطراف به اندازه کافی انرژی دریافت کنند و از پیوند رها شوند.

نوارهای انرژی در نیمه هادی:

می توان ثابت کرد که الکترونها انرژیهای گسسته و محدودی دارند وشکافهایی از انرژی وجود دارد که در آنها هیچ حالت مجازی برای الکترون وجود ندارد.

اتمهای منفرد و جامدات:

در اینجا رفتار ویک اتم در حالتی را که در همسایگی هیچ اتم دیگری قرار ندارد و بصورت کاملا منفرد یعنی در خلا کامل است بررسی می کنیم.(شکل 1)

ابتدا الکترون سطوح کم انرژی تر را پر می کند.

با کم شدن فاصله اتمی بدلیل نیروهای جاذبه دافعه اتمی تغییرات مهمی ازشکل تراز الکترونها رخ می دهد که این تغییرات خود سبب تعیین خواص الکتریکی جامدات است. میتوان گفت در فاصله اتمی معینی نیروهای جاذبه ودافعه به تعادل میرسد.

با تجمع اتمها اصل انحصار پائولی اهمیت پیدا می کند. طبق این اصل هیچ دو الکترونی نمی تواند در حالت کوانتومی انرژی یکسانی داشته باشد. بنابراین انتظار می رود که با نزدیک شدن اتمهای منفرد ترازهای انرژی تغییر کند.

با کاهش فاصله اتمی ترازهای مجزای انرژی به نوارهای انرژی تبدیل می شود که این نوارها خود از ترازهای بسیارنزدیک به هم تشکیل شده اند.

دانلود تحقیق تست ذرات مغناطیسی، مایعات نافذ ، التراسونیک و توضیحاتی در رابطه با ضخامت سنجها 13 ص

اختصاصی از حامی فایل دانلود تحقیق تست ذرات مغناطیسی، مایعات نافذ ، التراسونیک و توضیحاتی در رابطه با ضخامت سنجها 13 ص دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

فرمت فایل word  و قابل ویرایش و پرینت

تعداد صفحات: 13

تست ذرات مغناطیسی، مایعات نافذ ، التراسونیک و

توضیحاتی در رابطه با ضخامت سنجها

در این مطلب شما توضیحات مختصری در رابطه با انواع مختلف تستهای ذرات مغناطیسی و همچنین توضیحات مختصری درباره مایعات نافذ و تست التراسونیک که جزء تستهای غیر مخرب محسوب می شوند را می خوانید ، در پایان نیز توضیحات مختصری را در مورد انواع مختلف ضخامت سنجها  آورده شده است.

 تست ذرات مغناطیسی (MT):

از این روش می توان برای یافتن عیوب سطحی و یا نزدیک به سطح در قطعات فرومغناطیسی استفاده نمود. در این تکنیک تمام یا بخشی از قطعه مغناطیس شده و فلوی مغناطیسی از داخل قطعه عبور داده می شود. هر گاه عیبی در سطح یا نزدیکی سطح قطعه وجود داشته باشد باعث نشت فلوی مغناطیسی در قطعه می گردد و نتیجتا باعث به وجود آمدن دو قطب S,N می گردد. که با پاشیدن ذرات ریز فرومغناطیسی مانند اکسید آهن آغشته به مواد فلروسنت بر روی سطح قطعه می توان ترک را زیر نور ماوراء بنفش مشاهده نمود.

مغناطیس کردن به وسیله کابل (MAGNETIZATION by cable):گاهی اوقات ابعاد قطعات به اندازه ای بزرگ است که امکان استفاده از کویل امکان پذیر نیست. وقتی این مسئله اتفاق می افتد یک سیم مسی عایق شده ( روپوش دار) را میتوان برای ایجاد میدان مغناطیسی در ماده استفاده کرد. در این روش سیم (کابل) را به دور قطعه می چرخانیم ( شبیه کویل ) تا یک میدان طولی در قطعه ایجاد شود. استفاده از روش پراد (Use of prode method):

پراد وسیله ای است که با استفاده از عبور جریان از میله های مسی موجب ایجاد یک میدان مغناطیسی موضعی می شود . ( (Local magnetizeبطور کلی با روش پراد بیشترین قدرت آشکارسازی برای عیوب موازی خط جوش وجود دارد.

روش یوک (Yoke):یوک قطعه ای است فلزی و U شکل با یک سیم پیچ پیچیده شده دور آن که جریان را از خود عبور می دهد. هنگامی که کویل حامل جریان شود در امتداد قطعه یوک ، یک میدان مغناطیسی طولی در قطعه تست ایجاد می شود. در میدان مغناطیسی ایجاد شده توسط یوک میدان مغناطیسی خارجی می تواند ذرات آهن را به شدت جذب کند و جهت بررسی عیوب سطحی به کار می رود. اگر ذرات آهن در میدان میان دو قطب یوک اعمال شود. علائم عیوب سطحی را به آسانی می توان مشاهده نمود. جریان متناوب یکی از مناسبترین جریانهای الکتریکی است که موارد مصرف روزمره دارد به همین دلیل از آن استفاده زیادی به منظور منبعی برای تست ذرات مغناطیسی می باشد.

ذرات (Particles ):ذرات مورد استفاده در تست MT از موادی که به دقت از لحاظ مغناطیس شوندگی ، شکل و قابلیت نفوذپذیری انتخاب شده اند می باشند. این ذرات، مغناطیس باقی مانده را در خود نگه نمی دارند. این ذرات از براده های تراش کاری هم کوچکترند و در حقیقت این ذرات شبیه پودر می باشند . ذرات بر مبنای روشهای استفاده آنها به دو گروه خشک و تر طبقه بندی می شوند. ذرات مغناطیسی توسط نشت میدان مغناطیسی جذب می شوند و تجمع ذرات در محل عیب و نشت میدان می توان موجب آشکار شدن علائم عیب شود .در روش فلروسنت از لامپ UV ( ماوراء بنفش ) که دارای نور مرئی می باشند و به آن نور سیاه نیزگفته می شود استفاده می گردد. پس عملیات تست به وسیله روش فلروسنت در نور مرئی انجام پذیر نیست. ذرات مغناطیسی باید دارای قابلیت نفوذپذیری زیاد باشند تا اطمینان از این که جذب این ذرات توسط میدانهای ضعیف هم صورت می گیرد حاصل شود و همچنین باید این ذرات قابلیت نگهداری کم داشته باشند تا مغناطیس باقیمانده در آن کم باشد و این مواد باید بلافاصله بعد از قطع میدان برطرف شوند البته اگر جذب نشتی میدان نشوند.

تحقیق در مورد تست ذرات مغناطیسی، مایعات نافذ ، التراسونیک و توضیحاتی در رابطه با ضخامت سنجها 13 ص

اختصاصی از حامی فایل تحقیق در مورد تست ذرات مغناطیسی، مایعات نافذ ، التراسونیک و توضیحاتی در رابطه با ضخامت سنجها 13 ص دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

فرمت فایل word  و قابل ویرایش و پرینت

تعداد صفحات: 13

تست ذرات مغناطیسی، مایعات نافذ ، التراسونیک و

توضیحاتی در رابطه با ضخامت سنجها

در این مطلب شما توضیحات مختصری در رابطه با انواع مختلف تستهای ذرات مغناطیسی و همچنین توضیحات مختصری درباره مایعات نافذ و تست التراسونیک که جزء تستهای غیر مخرب محسوب می شوند را می خوانید ، در پایان نیز توضیحات مختصری را در مورد انواع مختلف ضخامت سنجها  آورده شده است.

 تست ذرات مغناطیسی (MT):

از این روش می توان برای یافتن عیوب سطحی و یا نزدیک به سطح در قطعات فرومغناطیسی استفاده نمود. در این تکنیک تمام یا بخشی از قطعه مغناطیس شده و فلوی مغناطیسی از داخل قطعه عبور داده می شود. هر گاه عیبی در سطح یا نزدیکی سطح قطعه وجود داشته باشد باعث نشت فلوی مغناطیسی در قطعه می گردد و نتیجتا باعث به وجود آمدن دو قطب S,N می گردد. که با پاشیدن ذرات ریز فرومغناطیسی مانند اکسید آهن آغشته به مواد فلروسنت بر روی سطح قطعه می توان ترک را زیر نور ماوراء بنفش مشاهده نمود.

مغناطیس کردن به وسیله کابل (MAGNETIZATION by cable):گاهی اوقات ابعاد قطعات به اندازه ای بزرگ است که امکان استفاده از کویل امکان پذیر نیست. وقتی این مسئله اتفاق می افتد یک سیم مسی عایق شده ( روپوش دار) را میتوان برای ایجاد میدان مغناطیسی در ماده استفاده کرد. در این روش سیم (کابل) را به دور قطعه می چرخانیم ( شبیه کویل ) تا یک میدان طولی در قطعه ایجاد شود. استفاده از روش پراد (Use of prode method):

پراد وسیله ای است که با استفاده از عبور جریان از میله های مسی موجب ایجاد یک میدان مغناطیسی موضعی می شود . ( (Local magnetizeبطور کلی با روش پراد بیشترین قدرت آشکارسازی برای عیوب موازی خط جوش وجود دارد.

روش یوک (Yoke):یوک قطعه ای است فلزی و U شکل با یک سیم پیچ پیچیده شده دور آن که جریان را از خود عبور می دهد. هنگامی که کویل حامل جریان شود در امتداد قطعه یوک ، یک میدان مغناطیسی طولی در قطعه تست ایجاد می شود. در میدان مغناطیسی ایجاد شده توسط یوک میدان مغناطیسی خارجی می تواند ذرات آهن را به شدت جذب کند و جهت بررسی عیوب سطحی به کار می رود. اگر ذرات آهن در میدان میان دو قطب یوک اعمال شود. علائم عیوب سطحی را به آسانی می توان مشاهده نمود. جریان متناوب یکی از مناسبترین جریانهای الکتریکی است که موارد مصرف روزمره دارد به همین دلیل از آن استفاده زیادی به منظور منبعی برای تست ذرات مغناطیسی می باشد.

ذرات (Particles ):ذرات مورد استفاده در تست MT از موادی که به دقت از لحاظ مغناطیس شوندگی ، شکل و قابلیت نفوذپذیری انتخاب شده اند می باشند. این ذرات، مغناطیس باقی مانده را در خود نگه نمی دارند. این ذرات از براده های تراش کاری هم کوچکترند و در حقیقت این ذرات شبیه پودر می باشند . ذرات بر مبنای روشهای استفاده آنها به دو گروه خشک و تر طبقه بندی می شوند. ذرات مغناطیسی توسط نشت میدان مغناطیسی جذب می شوند و تجمع ذرات در محل عیب و نشت میدان می توان موجب آشکار شدن علائم عیب شود .در روش فلروسنت از لامپ UV ( ماوراء بنفش ) که دارای نور مرئی می باشند و به آن نور سیاه نیزگفته می شود استفاده می گردد. پس عملیات تست به وسیله روش فلروسنت در نور مرئی انجام پذیر نیست. ذرات مغناطیسی باید دارای قابلیت نفوذپذیری زیاد باشند تا اطمینان از این که جذب این ذرات توسط میدانهای ضعیف هم صورت می گیرد حاصل شود و همچنین باید این ذرات قابلیت نگهداری کم داشته باشند تا مغناطیس باقیمانده در آن کم باشد و این مواد باید بلافاصله بعد از قطع میدان برطرف شوند البته اگر جذب نشتی میدان نشوند.

ذرات فلزی با اندازه نانو تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS)

اختصاصی از حامی فایل ذرات فلزی با اندازه نانو تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS) دانلود با لینک مستقیم و پر سرعت .

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

فرمت فایل word  و قابل ویرایش و پرینت

تعداد صفحات: 75

فهرست

مقدمه

4

چکیده

6

فصل اول تکنیک های پراش با زاویه کوچک(SAS)

7

1-1- تکنیک های پراکندگی زاویه کوچک (SAS)

8

2-1- پخش (ارسال) نوری:

17

3-1- ارسال نوترون زاویه کوچک( (SANS

21

فصل دوم تئوری SAXS

24

1-2- قانون Guinier و شعاع دوران

29

2-2- تداخل بین ذره ای (Interparticle Interference)

31

فصل سوم تجهیزات (SAXS)

33

1-3- تجهیزات آشکارسازی شمارنده ای

34

1-1-3- دیفرکتومتر چهار شکافی (Four –Slit diffractomter)

35

2-3- دوربینهای شناسایی فتوگرافیکی

37

1-2-3- دوربین kratky

38

3-3- تجهیزات سیستم SAXS نصب شده در شرکت مترولوژی (UMASS)

42

1-3-3- منبع تشعشع

42

2-3-3- جداسازی و برد q:

44

3-3-3- آشکارسازهای سطح:

49

4- 3-3- محفظه های مربوط به نمونه:

53

5-3-3- سیستم خلاء

55

6-3-3- سکوئی برای سیستم نصب:

55

7- 3-3- سیستم ایمنی:

55

8-3-3- الکترونیک و اینترفیس (واسطه) کامپیوتری:

56

9- 3-3- نرم افزار آنالیز داده ها

57

10-3-3- تجهیزات جانب یبرای عملکرد بهینه:

58

11- 3-3- گزینه ها:

59

فصل چهارم شرایط و دستورالعمل آزمایشگاهی

60

1-4- تکفام کنندگی و انتخاب طول موج

61

2-4- تنظیم و ساخت شکاف (slit)

61

3-4- خلاء لازم

62

4-4- روش آشکارسازی

62

5-4- آماده سازی نمونه ها

63

6-4- نمونه ها

63

7-4- نمونه های استاندارد

63

8-4- زمان آنالیز

64

فصل پنجم تصحیح داده ها

65

فصل ششم آنالیز داده های SAXS

67

فصل هفتم کاربرد SAXS

71

فصل هشتم مزایا و معایب روش SAXS

74

منابع:

76

مقدمه

ذرات فلزی با اندازه نانو نقش مهمی را در مهندسی مواد ایفا می کنند چون که ویژگیهای ذرات با اندازه نانو با ویژگیهای بقیه مواد متفاوت است ]1[

توزیع اندازه ذرات نانو با استفاده از تکنیک میکروسکوپ TEM قابل اندازه گیری است TEM یک تکنیک فوق العاده مفید برای حصول اطلاعاتی نظیر توزیع اندازه ذره ، اندازه متوسط ذره و شکل ذرات نانو است ]1[

اندازه گیری TEM نیاز به عملیات پیچیده برای آماده سازی نمونه و مهارت بالای اپراتور دارد و زمان اندازه گیری طولانی است بعلاوه تکنیک TEM یک روش اندازه گیری در محل (In situ) نیست و تعداد ذرات اندازه گیری شده از فتوگراف ، در اغلب موارد از اندازه گیریهای تئوریکی کمتر است ]1[

بنابراین اکثر محققان در ارتباط با نانو تکنولوژی در جستجوی یک روش مناسب و یک روش In situ برای اندازه گیری توزیع ذرات نانو بودند این روشها بر اساس پراکندگی در زوایای کوچک استوار بود ]1[

Small-angle scattering =SAS

SAX در واقع یک نام کلی است که برای مجموعه ای از تکنیکهای زیر بکار می رود]2[